Curso de Metodología para la
Vigilancia Tecnológica e Inteligencia Competitiva
San Sebastián, 7 de junio de 2010 |
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Este Curso se sitúa en el escenario de una organización que todavía no ha estructurado ni ha sistematizado el proceso de la VT-IC.
Objetivo del curso: Asimilar la metodología y ejercitarse mediante un caso, tanto en el proceso de VT-IC como en las claves para implantar con éxito un sistema de VT-IC en una organización.
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7 de junio, lunes
Profesor: Juan Carlos Vergara
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Mañana: Metodología de la VT-IC
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La evolución del entorno y prioridades de la gestión. Necesidad de la función Vigilancia.
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Definiciones. La VT y la IC. Qué es y qué no es la VT-IC. Su relación con otras disciplinas. Objetivos de la Unidad de Vigilancia o Inteligencia en una organización. La norma UNE 166006 sobre el Sistema de Vigilancia Tecnológica.
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Metodología de la VT-IC y Fases del Proceso. Organización y coordinación del equipo de VT-IC. Autodiagnóstico de VT-IC.
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Análisis estratégico de la empresa. Las cinco fuerzas competitivas. El encaje de la VT-IC en la estrategia de la empresa. Análisis de los Factores Críticos de Vigilancia. Tipos de Vigilancia.
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Análisis de las necesidades de información. Evaluación de las Fuentes de Información. Formalización de la información informal. El proceso de búsqueda y su optimización.
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Las patentes: Su utilidad en el desarrollo de nuevos productos y en la diversificación de actividades. Posibilidades de explotación y automatización. Análisis estadísticos y generación de mapas.
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Explotación sistemática de fuentes de información: Tipos de fuentes de Información disponibles.
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Tratamiento y análisis de la información. Estrategias para su tratamiento y explotación. Señales e indicadores de distintos niveles.
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La difusión, comunicación, uso y protección de la información.
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Detalle de las fases de Implantación de un Sistema de VT-IC. Evaluación de su funcionamiento. Cambios de cultura. Ventajas de la implantación de un Sistema de VT-IC.
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| Impartido por: |
J.Carlos Vergara, Dtor.Técnico CDE-Centro de Vigilancia, Normas y Patentes
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| Dirigido a: |
Gerentes; Directores de I+D; Directores de Producto; Investigadores; Técnicos de OTRIs; Gestores del Conocimiento; Consultores en Gestión del Conocimiento e Innovación; Profesionales de investigación de mercado y de marketing; Profesionales de planificación estratégica y de inteligencia económica; Consultores de Gestión; Directores de Centros de Información Empresarial y Documentalistas especializados. |
| Requerimientos: |
No hay requerimientos de conocimientos previos
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| Ordenador y comunicaciones: |
En este curso no se utiliza ordenador
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| Entregables: |
Se entregarán las transparencias en papel. También se dará la opción de descargar de la web http://www.cde.es el material del curso. |
| Fechas: |
7 de junio de 2010 |
| Horario: |
De 9:00 a 13:30 y de 15:00 a 18:00 |
| Lugar: |
Aula de Grupo CDE. Parque Empresarial Zuatzu; Edificio Urgull, planta baja
Ver MAPA de situación |
| Matrícula: |
350 Euro + 16% IVA = 406 Euro.
La matrícula incluye la comida |
| Pago: |
Cheque o Transferencia a la cuenta de Bankoa 0138.0031.39.0010270073
Indicar como referencia: Curso Metodología + Nombre de la empresa |
| Facturación: |
CDE enviará la factura y el certificado de asistencia por correo al finalizar el curso |
| Bonificación Fundación Tripartita: |
Acción formativa bonificable a través de la Fundación Tripartita. Solicite información. Le calculamos la bonificación exacta y realizamos toda la tramitación, sin coste alguno. |
| Más información: |
CDE - Centro de Vigilancia, Normas y Patentes
Contactar con: Iñigo de Diego idediego@cde.es
Tf 943494017, Fax 943494296, http://www.cde.es
Documento en PDF |
| PREINSCRIPCIÓN: |
Pulsar aquí |
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